Laboratorij 2: Pretražni elektronski mikroskop

Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja (FE-SEM, Field Emission Scanning Electron Microscope) je iznimno sofisticirani uređaj namijenjen uvidu u strukturu površine materijala sve do nanometarske razine, uz uvećanje od milijun puta.  

FE-SEM mikroskop opremljen je sljedećim detektorima:

  • detektor sekundarnih elektrona za topografsku analizu površine uzorka
  • detektor povratno raspršenih elektrona za prikaz kontrasta između područja s različitim kemijskim sastavom
  • detektor x-zraka za kvalitativnu i kvantitativnu kemijsku analizu uzoraka

Primjena FE-SEM mikroskopa obuhvaća uz ostalo:

  • istraživanje površine nanostrukturnih i drugih materijala
  • analizu veličine i rasporeda čestica i homogenosti materijala
  • mjerenje hrapavosti površine materijala
  • analiza mehaničkog oštećenja i zamora materijala
  • analiza kontaminacije materijala
  • istraživanja u biomedicini
  • istraživanja na organskim materijalima
  • istraživanja geoloških, mineralnih, kristaliničnih, arheoloških i drugih uzoraka