Kemijske i mikroskopske analize

KEMIJSKA I OPTIČKA ISPITIVANJA MATERIJALA (metali, keramike, polimeri)

METRIS-ovi laboratoriji (kemijski odjel) opremljeni su uređajima za ispitivanje kemijskih svojstava metalnih materijala. Kemijski sastav metala ispituje se akreditiranim metodama uz pomoć optičkog emisijskog spektrometra GDS LECO500A te s pretražnim elektronskim mikroskopom SEM FEI FEG250QUANTA / OXFORD EDS PENTAFET. Pored kemijskih ispitivanja svojstava metala, u laboratorijima se provodi i metalografska analiza mikrostrukture metalnih materijala te analiza lomnih površina pomoću pretražnog elektronskog mikroskopa i svjetlosnog mikroskopa. Za ispitivanja se uzorci pripremaju preciznim rezanjem, brušenjem, poliranjem, nagrizanjem te naparivanjem ovisno o metodi analize za koju su predviđeni. Oprema dostupna u METRIS-u omogućuje ispitivanje kemijskih svojstava raznih  materijala, primjerice polimera, keramika i nanokompozita.


DOSTUPNE METODE KEMIJSKIH I OPTIČKIH ANALIZA
 
  • Metalografska analiza i analiza svjetlosnim mikroskopom (analiza svjetlosnim metalografskim mikroskopom)
  • GDS analiza (određivanje kemijskog sastava metala i legura optičkim emisijskim spektrometrom – akreditirana metoda)
  • SEM analiza metala (analiza površine metala pretražnim elektronskim mikroskopom – akreditirana metoda)
  • SEM analiza nemetala (analiza površine nevodljivih materijala pretražnim elektronskim mikroskopom –akreditirana metoda)
  • EDS analiza (mikroanaliza kemijskog sastava metala pomoću pretražnog elektronskog mikroskopa – akreditirana metoda)
  • SEM nano analiza (analiza površine materijala u nano-području rada – akreditirana metoda)
  • ESEM analiza biološkog materijala (analiza površine bioloških i drugih nevodljivih te naprednih materijala pretražnim elektronskim mikroskopom – akreditirana metoda)
  • Ionska kromatografija (određivanje koncentracije iona topivih soli, u suradnji s vanjskim laboratorijem)
  • FT-IR spektroskopija (analiza kemijskog sastava pomoću IR spektroskopije izradom KBr pastile)
  • FT-IR mikroanaliza kemijskog sastava pomoću FT-IR mikroskopa (za organske i anorganske materijale)
  • Termogravimetrijska analiza TGA (u suradnji s vanjskim laboratorijem)
  • XRD analiza (analiza minerala difrakcijom X zraka, u suradnji s vanjskim laboratorijem)


SEM

Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja (FE-SEM, Field Emission Scanning Electron Microscope) je iznimno sofisticirani uređaj namijenjen uvidu u strukturu površine materijala sve do nanometarske razine, uz uvećanje od milijun puta. 
FE-SEM mikroskop opremljen je sljedećim detektorima:
  • detektor sekundarnih elektrona za topografsku analizu površine uzorka,
  • detektor povratno raspršenih elektrona za prikaz kontrasta između područja s različitim kemijskim sastavom,
  • detektor x-zraka za kvalitativnu i kvantitativnu kemijsku analizu uzoraka.


Primjena FE-SEM mikroskopa obuhvaća uz ostalo:
 
  • istraživanje površine nanostrukturnih i drugih materijala,
  • analizu veličine i rasporeda čestica i homogenosti materijala,
  • mjerenje hrapavosti površine materijala,
  • analiza mehaničkog oštećenja i zamora materijala,
  • analiza kontaminacije materijala,
  • istraživanja u biomedicini i farmaceutici,
  • istraživanja na organskim materijalima,
  • istraživanja geoloških, mineralnih, kristaliničnih, arheoloških i drugih uzoraka.